Philips Semiconductors Waferfab RF Nijmegen

Gezamenlijk de Performance-fase bereikt! Een prestatie die nog steeds een trots gevoel geeft

→ “In mijn carrière tot nog toe heb ik alleen met het management van de Waferfab RF van Philips Semiconductors Nijmegen de Performing-fase weten te bereiken. Het is een gezamenlijke prestatie die me nog steeds een trots gevoel geeft.”

In mei 2000 werd Marc de Wind Unitmanager in de waferfab RF van Philips Semiconductors; de kleinste van de vier halfgeleider-/‘chip’-fabrieken in Nijmegen. Deze fabriek was opgedeeld in vier units waarvan Marc de unit Ovens-Implant leidde. Vanaf medio 2001 werd hij leidinggever van de unit Patterning (Litho en Etsen). Terugkijkend op deze periode stelt Marc:

“In deze fabriek werd me zonneklaar duidelijk wat het verbeteren vanuit Minor Defects voor grootse resultaten kan brengen. Het is in feite de basis van mijn huidige aanpak.”

Binnen de wafer-fab werd in 2000 een lage Yield-opbrengst gerealiseerd, vergeleken met die van de andere Philipsfabrieken. Voor een deel was dat verklaarbaar omdat de RF-fab een ontwikkelfabriek betrof voor de businessline van RF.

De grootste bedreiging vormde echter de kostbare uitval van hele partijen wafers (silicium schijven met daarop elk honderden chips voor onder meer de telefonie en automotive sectoren) waardoor o.a. een in het oog springende design-in voor – toen marktleider – Nokia drie maanden moest worden uitgesteld. Het onderzoek richtte zich dan ook allereerst op de reden achter de uitval. Marc de Wind hierover:

“Gezamenlijk ontdekten we  dat er nooit maar één oorzaak voor dergelijke uitval was, maar dat er steeds sprake was van vele kleine tekortkomingen (Minor Defects; Een samenkomen van een geheel van foutjes die uiteindelijk terug te voeren waren op de misprestaties. Deze foutjes bevonden zich vooral op de vlakken Housekeeping, Opleiding, Onderhoud en Instructies.”

Binnen de RF-fab is daarop een Tagging-proces geïntroduceerd waarmee groepen van operators kleine verbeteringen konden doorvoeren, waarvoor ze in ruil  kleine beloningen kregen. Marc de Wind heeft met name in deze snel anticiperende en high tech semiconductorwereld ervaren dat de start van een verbeterproces eigenlijk altijd op het stuk Housekeeping ligt. Dit omdat per definitie veel door de medewerkers zelf kan worden opgepakt, investeringen laag zijn en het resultaat juist op de werkplek snel zichtbaar wordt.

Naast de Minor-Defects-aanpak is gerichte begeleiding van het Management Team  ingezet ; Senior Consultant Mark Haans (&Co) heeft in vier jaar tijd deze leidinggevenden tot een hecht opererend team ontwikkeld volgens het Forming-Storming-Norming-Performing-model.

Communicatief werd vooral ingezet op het tastbaar maken van behoeften van klanten, als ook resultaten van verbeteringen uitgevoerd door de medewerkers. Beiden wezenlijk voor motivatie en betrokkenheid in alle stadia van verbeterprocessen. Het is in deze periode dat Marc de mogelijkheden van creatieve interne communicatie als een specifiek verbetertool ontdekte.

Bijzondere verbeterresultaten voor Philips Semiconductors Waferfab RF

Marc de Wind over de bijzondere verbeterresultaten van de Nijmeegse RF-waferfab:

“In mijn carrière tot nog toe heb ik alleen met het management van Philips Semiconductors Nijmegen deze Performing-fase weten te bereiken. De maatlat voor ons verbeterproces was de ‘Line Yield’ en die ging van 75 naar 98%. Het is een gezamenlijke prestatie die me nog steeds een trots gevoel geeft.”

Zie het artikel Verbeterproces in de Waferfab – uit peRspectieF.